X-rite 504 SpectroDensitometer
Портативный спектроденситометр для измерения в отраженном свете оптической плотности и разности оптических плотностей
Модель начального уровня, включающая ограниченный набор
функций измерения оптической плотности.
• сменные апертуры 2, 3.4 (стандартно) и 6 мм (2 и 6 мм
опционально)
• апертура ""microspot"" размером 1,6 мм (устанавливается только
на заводе-изготовителе )
• включение/выключение поляризационного фильтра одним
движением
• разъем для подключения к компьютеру
• портативное исполнение
• усовершенствование прибора до любой старшей модификации
этой серии путем введения символьного кода
• встроенный ЖК-экран для отображения значений измерения
Подробности
Сопутствующие
товары
45°/0° per ANSI & ISO Standards
Размер апертуры
стандартно 3.4 мм (2.0 мм и 6.0 мм
опционально)
Источник света
Gas Pressure @ 2856°
Диапазон измерений спектра
400 - 700 нм
Стандарты
T, E, I, A, G,Tx, Ex, Hi-Fi
Диапазон измерений
0.00D–2.5D; 0–160%R
Время измерения
1.4 секунды
Время разогрева
не требуется
Повторяемость
±0.005D для 0–2.0D, ±0.010D для 2.0–2.5D,
Polarized Yellow ±0.010 для 0–1.8D, Micro-Spot ±0.010D для
0.0–1.8D
Согласованность приборов
0.01D или 1%
Интерфейсы
RS-232
Электропитание
220 В, 50/60 Гц
Источник питания
Ni-MH battery pack, 4.8 V @ 1250 mAH
Время перезарядки источника питания
3 ч.
Габариты
(В) 81 мм х (Ш) 76 мм х (Д) 197 мм
Масса
1050 г.
Возможность апгрейда
до 508, 518, 520, 528, 530
